X線吸収微細構造 : XAFSの測定と解析

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1130282272338840320

• NII書誌ID

  BN08713353

• ISBN

  4762257087

• 本文言語コード

  ja

• 出版国コード

  ja

• タイトル言語コード

  ja

• 出版地

  • 東京

• 分類

  • NDC8: 433.5
  • NDC7: 433.58
  • NDLC: PA128

• 件名

  • BSH: エックス線分光分析
  • NDLSH: エックス線分光分析

• データソース種別

  • CiNii Books