Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A.

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書誌事項

タイトル
"Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A."
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editors, Noble M. Johnson, Stephen G. Bishop, George D. Watkins
出版者
  • Materials Research Society
出版年月
  • c1985
書籍サイズ
24 cm

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注記

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