Optical fabrication, testing and metrology II : 13-15 September 2005, Jena, Germany
書誌事項
- タイトル
- "Optical fabrication, testing and metrology II : 13-15 September 2005, Jena, Germany"
- 責任表示
- Angela Duparré, Roland Geyl, Lingli Wang, chairs/editors ; sponsored by SPIE Europe ; cosponsored by Friedrich-Schiller-Universität Jena (Germany) ; cooperating organizations, EOS--European Optical Society, DGaO--Deutsche Gesellschaft für Angewandte Optik e.V. (Germany), Optonet e.V. (Germany)
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- c2005
- 書籍サイズ
- 28 cm
- シリーズ名/番号
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- pbk.
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注記
Includes bibliographical references and author index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282272501345408
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- NII書誌ID
- BA7776670X
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- ISBN
- 0819459836
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- LCCN
- 2006274577
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/2006274577
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash., USA
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- 分類
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- LCC: QC372.2.D4
- DC22: 681/.4
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- データソース種別
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- CiNii Books