書誌事項
- タイトル
- "Sampling, wavelets, and tomography"
- 責任表示
- John J. Benedetto, Ahmed I. Zayed, editors
- 出版者
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- Birkhäuser
- 出版年月
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- c2004
- 書籍サイズ
- 25 cm
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注記
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282272625974272
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- NII書誌ID
- BA65445334
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- ISBN
- 0817643044
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- LCCN
- 2003061722
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/2003061722
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Boston
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- 件名
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- LCSH: Harmonic analysis
- LCSH: Wavelets (Mathematics)
- LCSH: Fourier analysis
- LCSH: Sampling (Statistics)
- LCSH: Tomography
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- データソース種別
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- CiNii Books