日本と中国の特許制度についての比較研究 : 特許審査制度を中心に = Comparative study on the patent systems between China and Japan : focusing on the patent examination system

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Bibliographic Information

Title
"日本と中国の特許制度についての比較研究 : 特許審査制度を中心に = Comparative study on the patent systems between China and Japan : focusing on the patent examination system"
Statement of Responsibility
シュウ・ニン [著]
Publisher
  • 知的財産研究所
Publication Year
  • 1999.3
Book size
30cm
Other Title
  • ニホン ト チュウゴク ノ トッキョ セイド ニ ツイテ ノ ヒカク ケンキュウ : トッキョ シンサ セイド オ チュウシン ニ

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Notes

特許庁委託

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Details 詳細情報について

  • CRID
    1130282272729013248
  • NII Book ID
    BA72773253
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    ja
  • Place of Publication
    • 東京
  • Data Source
    • CiNii Books
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