Ultraviolet and x-ray detection, spectroscopy and polarimetry III : 19-20 July 1999, Denver, Colorado
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書誌事項
- タイトル
- "Ultraviolet and x-ray detection, spectroscopy and polarimetry III : 19-20 July 1999, Denver, Colorado"
- 責任表示
- Silvano Fineschi, Bruce E. Woodgate, Randy A. Kimble, chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- c1999
- 書籍サイズ
- 28 cm
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注記
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282272856330752
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- NII書誌ID
- BA45717599
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- ISBN
- 0819432504
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash.
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- データソース種別
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- CiNii Books