Advances in electron metallography, vol. 6 : a symposium presented at the Sixty-eighth Annual Meeting, American Society for Testing and Materials, Lafayette, Ind., June 13-18, 1965
書誌事項
- タイトル
- "Advances in electron metallography, vol. 6 : a symposium presented at the Sixty-eighth Annual Meeting, American Society for Testing and Materials, Lafayette, Ind., June 13-18, 1965"
- 出版者
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- ASTM
- 出版年月
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- 1966
- 書籍サイズ
- 23 cm
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注記
"sponsored by Subcommittee XI (Electron Microscopy, Diffraction, and Microprobe Analysis) of Committee E-4 on Metallography."
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282272864956288
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- NII書誌ID
- BA20544548
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- LCCN
- 59008773
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/59008773
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Philadelphia, Pa.
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- データソース種別
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- CiNii Books
