Optical systems degradation, contamination, and stray light: effects, measurements, and control : 2-5 August 2004, Denver, Colorado, USA
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書誌事項
- タイトル
- "Optical systems degradation, contamination, and stray light: effects, measurements, and control : 2-5 August 2004, Denver, Colorado, USA"
- 責任表示
- Philip T. C. Chen, John C. Fleming, Michael G. Dittman, chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- c2004
- 書籍サイズ
- 28 cm
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注記
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282272912961152
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- NII書誌ID
- BA74104899
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- ISBN
- 0819454648
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash.
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- データソース種別
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- CiNii Books