書誌事項
- タイトル
- "Speckle metrology"
- 責任表示
- edited by Rajpal S. Sirohi
- 出版者
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- Marcel Dekker Inc.
- 出版年月
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- c1993
- 書籍サイズ
- 24 cm
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282273070007296
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- NII書誌ID
- BA20564159
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- ISBN
- 0824789326
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- LCCN
- 93000734
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/93000734
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- New York
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- 件名
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- LCSH: Non-destructive testing
- LCSH: Speckle metrology
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- データソース種別
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- CiNii Books
