光学超薄膜を用いた軟X線干渉計測法の開発と精密結像鏡の反射波面計測制御への応用
CiNii
Available at 1 libraries
Bibliographic Information
- Title
- "光学超薄膜を用いた軟X線干渉計測法の開発と精密結像鏡の反射波面計測制御への応用"
- Statement of Responsibility
- 研究代表者 山本正樹
- Publisher
-
- [山本正樹]
- Publication Year
-
- 2002.3
- Book size
- 30cm
- Other Title
-
- コウガク チョウハクマク オ モチイタ ナンXセン カンショウ ケイソクホウ ノ カイハツ ト セイミツ ケツゾウキョウ ノ ハンシャ ハメン ケイソク セイギョ ヘ ノ オウヨウ
Search this Book/Journal
Notes
研究分担者: 羽多野忠, 柳原美廣
- Tweet
Details 詳細情報について
-
- CRID
- 1130282273195251200
-
- NII Book ID
- BB06284728
-
- Country Code
- ja
-
- Title Language Code
- ja
-
- Place of Publication
-
- [仙台]
-
- Data Source
-
- CiNii Books