はじめて受けるTOEIC TEST : 出題パターンと攻略テクニックがよくわかる

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Bibliographic Information

Title
"はじめて受けるTOEIC TEST : 出題パターンと攻略テクニックがよくわかる"
Statement of Responsibility
中川昭著
Publisher
  • 明日香出版社
Publication Year
  • 2002.9
Book size
21cm
Other Title
  • ハジメテ ウケル TOEIC TEST : シュツダイ パターン ト コウリャク テクニック ガ ヨク ワカル
  • はじめて受けるTOEIC TEST

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Notes

付属資料: 録音ディスク(1枚 ; 12cm)

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Details 詳細情報について

  • CRID
    1130282273273906176
  • NII Book ID
    BA60382805
  • ISBN
    4756905587
  • Text Lang
    ja
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    ja
  • Place of Publication
    • 東京
  • Classification
  • Subject
  • Data Source
    • CiNii Books
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