Machine vision applications in industrial inspection XIV : 16-17 January, 2006, San Jose, California, USA

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タイトル
"Machine vision applications in industrial inspection XIV : 16-17 January, 2006, San Jose, California, USA"
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Fabrice Meriaudeau, Kurt S. Niel, chairs/editors ; sponsored by IS&T--the Society for Imaging Science and Technology [and] SPIE--the International Society for Optical Engineering
出版者
  • SPIE
  • IS&T
出版年月
  • c2006
書籍サイズ
28 cm
シリーズ名/番号
  • pbk.
タイトル別名
  • Electronic imaging science and technology
  • Machine vision applications in industrial inspection 14

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