Machine vision applications in industrial inspection XII : 21-22 January, 2004, San Jose, California, USA

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タイトル
"Machine vision applications in industrial inspection XII : 21-22 January, 2004, San Jose, California, USA"
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Jeffery R. Price, Fabrice Mériaudeau, chairs/editors ; sponsored ... by IS & T--the Society for Imaging Science and Technology, SPIE--the International Society for Optical Engineering
出版者
  • SPIE
出版年月
  • c2004
書籍サイズ
28 cm
シリーズ名/番号
  • pbk.
タイトル別名
  • Proceedings of electronic imaging science and technology
  • Electronic imaging science and technology
  • Machine vision applications in industrial inspection 12

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