Lightmetry 2002 : metrology and testing techniques using light : 14-16 May, 2002, Warsaw, Poland
書誌事項
- タイトル
- "Lightmetry 2002 : metrology and testing techniques using light : 14-16 May, 2002, Warsaw, Poland"
- 責任表示
- Maksymilian Pluta, Mariusz Szyjer, chairs/editors ; Ewa Powichrowska, co-editor ; organized by SPIE Poland Chapter [and] Institute of Applied Optics (Poland) ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering [and] State Committee for Scientific Research (Poland) ; published by Spie--the International Society for Optical Engineering
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- c2003
- 書籍サイズ
- 28 cm
- タイトル別名
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- Metrology and testing techniques using light
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注記
Previous conference entitled: Lightmetry : metrology, spectroscopy, and testing techniques using light
Includes bibliographical references and author index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130569910458611595
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- NII書誌ID
- BC0785076X
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- ISBN
- 0819448702
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- LCCN
- 2004296369
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/2004296369
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash.
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- 分類
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- LCC: QC367
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- 件名
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- データソース種別
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- CiNii Books