Characterization of defects and deep levels for GaN power devices

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書誌事項

タイトル
"Characterization of defects and deep levels for GaN power devices"
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edited by Tetsuo Narita, Tetsu Kachi
出版者
  • AIP Publishing
出版年月
  • 2020
書籍サイズ
26 cm

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注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1971430859728025638
  • NII書誌ID
    BC05270780
  • ISBN
    9780735422704
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Melville, N.Y.
  • データソース種別
    • NACSIS-CAT/ILL
    • CiNii Books
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