New physics-based analytic approach to the thin-oxide breakdown statistics

書誌事項

公開日
2001-06
権利情報
  • https://ieeexplore.ieee.org/Xplorehelp/downloads/license-information/IEEE.html
DOI
  • 10.1109/55.924847
公開者
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

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収録刊行物

  • IEEE Electron Device Letters

    IEEE Electron Device Letters 22 (6), 296-298, 2001-06

    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

被引用文献 (5)*注記

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