Electron trapping levels in silicon dioxide thermally grown on silicon
書誌事項
- 公開日
- 1972-01
- 権利情報
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- https://www.elsevier.com/tdm/userlicense/1.0/
- DOI
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- 10.1016/s0022-3697(72)80296-8
- 公開者
- Elsevier BV
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収録刊行物
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- Journal of Physics and Chemistry of Solids
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Journal of Physics and Chemistry of Solids 33 (12), 2197-2216, 1972-01
Elsevier BV