Two novel characteristics in palmprint verification: datum point invariance and line feature matching

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収録刊行物

Pattern Recognition

Pattern Recognition 32 (4), 691-702, 1999-04

Elsevier BV

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CRID

1360298345506222208
DOI

10.1016/s0031-3203(98)00117-4
ISSN

00313203
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- Crossref

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