A knife-edge measurement of the beam profile of STXM 5.3.2.2 using a focussed ion beam milled metallic glass

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収録刊行物

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 185 (11), 453-457, 2012-11

Elsevier BV

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CRID

1360298764614125056
DOI

10.1016/j.elspec.2012.07.003
ISSN

03682048
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