Precise relative γ-ray intensities for calibration of Ge semiconductor detectors
書誌事項
- 公開日
- 1977-12
- 権利情報
-
- https://www.elsevier.com/tdm/userlicense/1.0/
- https://www.elsevier.com/legal/tdmrep-license
- DOI
-
- 10.1016/0029-554x(77)90276-2
- 公開者
- Elsevier BV
この論文をさがす
収録刊行物
-
- Nuclear Instruments and Methods
-
Nuclear Instruments and Methods 147 (2), 405-423, 1977-12
Elsevier BV