Analysis of I–V measurements on PtSi-Si Schottky structures in a wide temperature range
書誌事項
- 公開日
- 1991-12
- 権利情報
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- https://www.elsevier.com/tdm/userlicense/1.0/
- DOI
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- 10.1016/0038-1101(91)90031-s
- 公開者
- Elsevier BV
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収録刊行物
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- Solid-State Electronics
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Solid-State Electronics 34 (12), 1365-1373, 1991-12
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