Gate Oxide Reliability Issues of SiC MOSFETs Under Short-Circuit Operation

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1360574095907648256

• DOI

  10.1109/tpel.2014.2353417

• ISSN

  19410107

  08858993

• Web Site

  http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/63/6996060/06888511.pdf?arnumber=6888511

• データソース種別

  • Crossref