Nanocrystalline Ni–3.6 at.% P and its transformation sequence studied by atom-probe field-ion microscopy
書誌事項
- 公開日
- 2000-02
- 権利情報
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- https://www.elsevier.com/tdm/userlicense/1.0/
- DOI
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- 10.1016/s1359-6454(99)00371-7
- 公開者
- Elsevier BV
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収録刊行物
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- Acta Materialia
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Acta Materialia 48 (4), 933-941, 2000-02
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