In situ bulk lifetime measurement on silicon with a chemically passivated surface
書誌事項
- 公開日
- 1993-01
- 権利情報
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- https://www.elsevier.com/tdm/userlicense/1.0/
- DOI
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- 10.1016/0169-4332(93)90112-o
- 公開者
- Elsevier BV
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収録刊行物
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- Applied Surface Science
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Applied Surface Science 63 (1-4), 306-311, 1993-01
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