Detecting and describing the inhomogeneity of critical current in practical long HTS tapes using contact-free method

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書誌事項

公開日
2007-04
権利情報
  • https://www.elsevier.com/tdm/userlicense/1.0/
DOI
  • 10.1016/j.cryogenics.2007.01.006
公開者
Elsevier BV

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収録刊行物

  • Cryogenics

    Cryogenics 47 (4), 225-231, 2007-04

    Elsevier BV

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