Tunnel FET technology: A reliability perspective

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Microelectronics Reliability

Microelectronics Reliability 54 (5), 861-874, 2014-05

Elsevier BV

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CRID

1361418519757692160
DOI

10.1016/j.microrel.2014.02.002
ISSN

00262714
Web Site

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データソース種別
- Crossref

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