Analysis of the Parasitic S/D Resistance in Multiple-Gate FETs

書誌事項

公開日
2005-06
権利情報
  • https://ieeexplore.ieee.org/Xplorehelp/downloads/license-information/IEEE.html
DOI
  • 10.1109/ted.2005.848098
公開者
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

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