Mapping titanium and tin oxide phases using EELS: An application of independent component analysis

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Ultramicroscopy

Ultramicroscopy 111 (2), 169-176, 2011-01

Elsevier BV

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CRID

1361981469545176448
DOI

10.1016/j.ultramic.2010.10.001
ISSN

03043991
Web Site

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- Crossref

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