Extraction of the Schottky Barrier Height for Ti/Al Contacts on 4H-SiC from I-V and C-V Measurements

書誌事項

公開日
2004-06-15
権利情報
  • https://www.scientific.net/PolicyAndEthics/PublishingPolicies
  • https://www.scientific.net/license/TDM_Licenser.pdf
DOI
  • 10.4028/www.scientific.net/msf.457-460.993
公開者
Trans Tech Publications, Ltd.

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