An On-Chip NBTI Sensor for Measuring pMOS Threshold Voltage Degradation

書誌事項

公開日
2010-06
権利情報
  • https://ieeexplore.ieee.org/Xplorehelp/downloads/license-information/IEEE.html
DOI
  • 10.1109/tvlsi.2009.2017751
公開者
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

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