Four-probe electrical characterization of Pt-coated TMV-based nanostructures

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公開日
2008-03-20
DOI
  • 10.1088/0957-4484/19/16/165704
公開者
IOP Publishing

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収録刊行物

  • Nanotechnology

    Nanotechnology 19 (16), 165704-, 2008-03-20

    IOP Publishing

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