Quantitative Auger electron spectroscopy of SiC

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公開日
2006-06
権利情報
  • https://www.elsevier.com/tdm/userlicense/1.0/
  • https://www.elsevier.com/legal/tdmrep-license
DOI
  • 10.1016/j.vacuum.2006.01.003
公開者
Elsevier BV

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収録刊行物

  • Vacuum

    Vacuum 80 (9), 990-995, 2006-06

    Elsevier BV

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