Time-Resolved Measurement of Negative Capacitance

書誌事項

公開日
2018-02
権利情報
  • https://ieeexplore.ieee.org/Xplorehelp/downloads/license-information/IEEE.html
DOI
  • 10.1109/led.2017.2782261
公開者
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

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収録刊行物

  • IEEE Electron Device Letters

    IEEE Electron Device Letters 39 (2), 272-275, 2018-02

    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

被引用文献 (7)*注記

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