A perspective on multiparameter quantum metrology: From theoretical tools to applications in quantum imaging
書誌事項
- 公開日
- 2020-04
- 権利情報
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- https://www.elsevier.com/tdm/userlicense/1.0/
- https://www.elsevier.com/legal/tdmrep-license
- DOI
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- 10.1016/j.physleta.2020.126311
- 公開者
- Elsevier BV
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収録刊行物
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- Physics Letters A
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Physics Letters A 384 (12), 126311-, 2020-04
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