High-resolution x-ray diffraction strain-stress analysis of GaN/sapphire heterostructures
書誌事項
- 公開日
- 2001-05-03
- DOI
-
- 10.1088/0022-3727/34/10a/308
- 公開者
- IOP Publishing
この論文をさがす
収録刊行物
-
- Journal of Physics D: Applied Physics
-
Journal of Physics D: Applied Physics 34 (10A), A35-A39, 2001-05-03
IOP Publishing
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1362825895348156928
-
- ISSN
- 13616463
- 00223727
- https://id.crossref.org/issn/00223727
- http://id.crossref.org/issn/00223727
-
- データソース種別
-
- Crossref
