A model for the prediction of Nb/sub 3/Sn critical current as a function of field, temperature, strain, and radiation damage

書誌事項

公開日
1991-03
権利情報
  • https://ieeexplore.ieee.org/Xplorehelp/downloads/license-information/IEEE.html
DOI
  • 10.1109/20.133608
公開者
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

この論文をさがす

収録刊行物

被引用文献 (5)*注記

もっと見る

詳細情報 詳細情報について

問題の指摘

ページトップへ