Principle and applications of the background oriented schlieren (BOS) method

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公開日: 2001-08-16

DOI

10.1088/0957-0233/12/9/325

公開者: IOP Publishing

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Measurement Science and Technology

Measurement Science and Technology 12 (9), 1576-1585, 2001-08-16

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CRID

1363388844778817280
DOI

10.1088/0957-0233/12/9/325
ISSN

13616501

09570233
データソース種別
- Crossref

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