‘All-inclusive’ imaging of the rutile TiO<sub>2</sub>(110) surface using NC-AFM
書誌事項
- 公開日
- 2009-11-19
- DOI
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- 10.1088/0957-4484/20/50/505703
- 公開者
- IOP Publishing
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収録刊行物
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- Nanotechnology
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Nanotechnology 20 (50), 505703-, 2009-11-19
IOP Publishing
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1363670320302934144
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- ISSN
- 13616528
- 09574484
- https://id.crossref.org/issn/09574484
- http://id.crossref.org/issn/09574484
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- データソース種別
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- Crossref