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Reliability of high performance 9xx-nm single emitter laser diodes
DOI
被引用文献1件
Ling Bao
Jun Wang
Mark Devito
Dapeng Xu
Damian Wise
Paul Leisher
Mike Grimshaw
Weimin Dong
Shiguo Zhang
Kirk Price
Daming Li
Chendong Bai
Steve Patterson
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Mark S. Zediker
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SPIE Proceedings 7583 758302-, 2010-02-11
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被引用文献 (1)
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CRID
1364233268921853824
DOI
10.1117/12.842856
ISSN
0277786X
データソース種別
Crossref
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