全反射全転換電子収量Ｘ線吸収微細構造による水溶液表面でのイオンの溶媒和構造解析

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タイトル別名
  • Solvation structure of ions at solution surfaces as studied by total-reflection total-conversion-electron yield X-ray absorption fine structure
  • ゼン ハンシャ ゼン テンカン デンシ シュウリョウ Xセン キュウシュウ ビサイ コウゾウ ニ ヨル スイヨウエキ ヒョウメン デ ノ イオン ノ ヨウバイワ コウゾウ カイセキ

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抄録

X線吸収微細構造（XAFS）により様々な試料の局所構造解析が行われ，固体試料表面へ適用した報告例もあるが，水溶液表面でのXAFS測定には多くの制約が伴い，容易には測定できなかった．本論文では水溶液表面への新しいアプローチとして開発した全反射全転換電子収量法（TRTCY）によるXAFS測定の原理，装置について報告する．この方法では，水溶液表面へのX線の照射によって放出されるオージェ電子をとらえ，X線吸収量を見積もることで，表面から10 nm以下の浅い領域を観測している．単分子膜で修飾された水溶液表面は，分離機能や分子認識能などの役割を担ういろいろな界面のモデルと見なすことができるので，TRTCY-XAFS法によって表面単分子膜に引き寄せられた溶存イオンの局所的な濃度や構造の解析結果を紹介する．また，表面膜の分子密度を制御できるTRTCY-XAFS測定装置について概説する．<br>

収録刊行物

  • 分析化学

    分析化学 52 (6), 405-418, 2003

    公益社団法人 日本分析化学会

被引用文献 (4)*注記

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参考文献 (45)*注記

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