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- 高島 和希
- 東京工業大学精密工学研究所
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- 肥後 矢吉
- 東京工業大学精密工学研究所
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- 杉浦 眞佐
- 日製産業株式会社科学システム本部エレクトロニクス部
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- Swain Michael V
- CSIRO
書誌事項
- タイトル別名
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- Fatigue and Fracture Toughness Testing Equipment of Micro-Sized Specimens for MEMS Applications
- シン ギジュツ シンセイヒン MEMSヨウ ミクロンサイズ チョウビショウ ザイリョウ ニ タイスル ヒロウ オヨビ ハカイジンセイ ヒョウカ シケン ソウチ ノ カイハツ
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収録刊行物
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- まてりあ
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まてりあ 40 (2), 184-186, 2001
公益社団法人 日本金属学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204055680128
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- NII論文ID
- 10008845255
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- NII書誌ID
- AN10433227
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- ISSN
- 18845843
- 13402625
- http://id.crossref.org/issn/13402625
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- NDL書誌ID
- 5680368
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles