Real-time Measurement of DNA Degradation under Radiation by Silicon Nanotweezers Coupled with Microfluidic Cavity

DOI Web Site
  • CHIANG Po-Tsun
    東京大学大学院　工学系研究科
  • PERRET Gregoire
    東京大学生産技術研究所　マイクロナノメカトロニクス国際研究センター
  • LAFITTE Nicolas
    東京大学生産技術研究所　マイクロナノメカトロニクス国際研究センター
  • KUMEMURA Momoko
    東京大学生産技術研究所　マイクロナノメカトロニクス国際研究センター
  • JALABERT Laurent
    東京大学生産技術研究所　マイクロナノメカトロニクス国際研究センター
  • ENOMOTO Atsushi
    東京大学大学院　医学院研究科　疾患生命センター
  • MIYAGAWA Kiyoshi
    東京大学大学院　医学院研究科　疾患生命センター
  • COLLARD Dominique
    東京大学生産技術研究所　マイクロナノメカトロニクス国際研究センター
  • FUJITA Hiroyuki
    東京大学生産技術研究所　マイクロナノメカトロニクス国際研究センター

Bibliographic Information

Other Title
  • シリコンナノピンセットとマイクロ流体デバイスによるDNA放射線損傷のリアルタイム測定
  • シリコンナノピンセット ト マイクロ リュウタイ デバイス ニ ヨル DNA ホウシャセン ソンショウ ノ リアルタイム ソクテイ

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Description

To improve radiation therapy, the DNA degradation mechanisms under radiation should be studied. In this research we use silicon nanotweezers, one kind of MEMS devices for direct manipulation of DNA molecules, to detect the radiation-caused degradation. By measuring resonant frequency of tweezers capturing a DNA bundle under radiation, we monitored the damage-related stiffness change of DNA in real-time. Besides, we also performed the measurement in solution coupled with microfluidic device. We hope this research will paves the way for both fundamental and clinical studies of DNA degradation mechanisms under radiation beams for improving radiation therapy and other tumor treatment.

Journal

  • SEISAN KENKYU

    SEISAN KENKYU 66 (3), 285-290, 2014

    Institute of Industrial Science The University of Tokyo

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