書誌事項
- タイトル別名
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- Micro PIXE (Particle Induced X-ray Emission) Analysis Using Heavy Ions and its Applications
- ジュウ イオン ニ ヨル マイクロ リュウシレイキXセン PIXE ブンセキホウ ト ソノ オウヨウ
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収録刊行物
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- 真空
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真空 43 (11), 1036-1041, 2000
一般社団法人 日本真空学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204063634176
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- NII論文ID
- 10007387895
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- NII書誌ID
- AN00119871
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- ISSN
- 18809413
- 05598516
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- NDL書誌ID
- 5593484
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles