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- ICHIMURA Shingo
- Electrotechnical Laboratory
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- SHIMIZU Ryuichi
- Osaka University, Department of Applied Physics
Bibliographic Information
- Other Title
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- オージェ定量分析の基礎 背面散乱電子効果の補正を中心にして
- オージェ テイリョウ ブンセキ ノ キソ ハイメン サンラン デンシ コウカ
- 背面散乱電子効果の補正を中心にして
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Abstract
記事分類: 化学・化学工業--化学実験・分析化学--光分析・電磁気分析 ; 金属工学・鉱山工学--性質・組織
Journal
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- Shinku
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Shinku 25 (10), 645-659, 1982
The Vacuum Society of Japan
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204064017408
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- NII Article ID
- 130000866131
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- NII Book ID
- AN00119871
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- ISSN
- 18809413
- 05598516
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- NDL BIB ID
- 2466257
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles