Characterization of Low-Temperature Processed Poly-Si Film Prepared by Excimer Laser Annealing.
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- MATSUO Naoto
- Department of Electrical & Electronic Engineering, Yamaguchi University
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- HAMADA Hiroki
- Microelectronics Research Center, SANYO Electric Co., Ltd.
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- AYA Youichiro
- Microelectronics Research Center, SANYO Electric Co., Ltd.
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- NOUDA Tomoyuki
- Microelectronics Research Center, SANYO Electric Co., Ltd.
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- MIYOSHI Tadaki
- Department of Electrical & Electronic Engineering, Yamaguchi University
Bibliographic Information
- Other Title
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- エキシマ・レーザ・アニールにより形成された低温プロセス多結晶Siのキャラクタリゼーション
- カイセツ エキシマ レーザ アニール ニ ヨリ ケイセイ サレタ テイオン プロセス タケッショウ Si ノ キャラクタリゼーション
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Journal
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- Shinku
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Shinku 42 (8), 741-748, 1999
The Vacuum Society of Japan
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204065583872
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- NII Article ID
- 10004568288
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- NII Book ID
- AN00119871
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- ISSN
- 18809413
- 05598516
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- NDL BIB ID
- 4850448
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles