Current Technology Trends of Transmission Electron Microscopy and Their Future Perspective (Electron Spectroscopy)
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- Muto Shunsuke
- Advanced Measurement Technology Center, Institute of Materials and Systems for Sustainability, Nagoya University
Bibliographic Information
- Other Title
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- 透過電子顕微鏡法の最新技術動向と将来展望(電子分光)
- トウカ デンシ ケンビキョウホウ ノ サイシン ギジュツ ドウコウ ト ショウライ テンボウ(デンシ ブンコウ)
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Journal
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- Materia Japan
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Materia Japan 56 (3), 249-253, 2017
The Japan Institute of Metals and Materials
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204080571904
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- NII Article ID
- 130005396245
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- NII Book ID
- AN10433227
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- ISSN
- 18845843
- 13402625
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- NDL BIB ID
- 028031932
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
- KAKEN