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- 坂田 修身
- (財) 高輝度光科学研究センター, 利用研究促進部門
書誌事項
- タイトル別名
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- Some Contemporary Trends in Synchrotron-based Surface Crystallography
- コンナ コト ガ デキル ホウシャコウ 9 ヒョウメン カガク ブンヤ ニ オケル ホウシャコウ ケッショウガク
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説明
Atomic-scale structures of surface layers determined by synchrotron diffraction are introduced. Typical X-ray diffraction methods such as surface diffraction and standing waves are summarized. We explain the standard procedure for refining a surface structure model using as an example water molecules adsorbed on a metal crystal surface. We also introduce a hot topic related to the phase problem in surface crystallography: model-independent imaging methods recently developed by several research groups using standing waves and crystal-truncationrod scattering. These methods have enabled atomic-scale visualization of surfaces and interfaces of crystals.
収録刊行物
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- 日本結晶学会誌
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日本結晶学会誌 47 (6), 371-379, 2005
日本結晶学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204086608512
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- NII論文ID
- 10016908401
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- NII書誌ID
- AN00188364
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- COI
- 1:CAS:528:DC%2BD28Xos12rtw%3D%3D
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- ISSN
- 18845576
- 03694585
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- NDL書誌ID
- 7786107
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可