収束電子回折法による積層欠陥の構造の研究

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• CRID

  1390001204088582016

• NII論文ID

  130000785795

• DOI

  10.5940/jcrsj.40.supplement_138

• ISSN

  18845576

  03694585

• 本文言語コード

  ja

• データソース種別

  • JaLC
  • Crossref
  • CiNii Articles