書誌事項
- タイトル別名
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- A New Approach for Cross-Sectional Examination of Interfaces by FE-SEM/ESB
- 電子顕微鏡による断面・界面観察の新たな世界
- デンシ ケンビキョウ ニ ヨル ダンメン カイメン カンサツ ノ アラタ ナ セカイ
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収録刊行物
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- 表面技術
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表面技術 57 (9), 622-629, 2006
一般社団法人 表面技術協会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204117663872
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- NII論文ID
- 10018244528
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- NII書誌ID
- AN1005202X
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- ISSN
- 18843409
- 09151869
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- NDL書誌ID
- 8093716
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles