Correlation between the Relative Sensitivity Factors and the Sputtering Yields in Glow-Discharge Mass Spectrometry.

DOI PDF Web Site Web Site Web Site 被引用文献2件 参考文献30件
  • SAKA Takashi
    Department of Applied Electronics, Daido Institute of Technology
  • INOUE Mika
    Research and Development Lab., Daido Steel Co. Ltd.

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収録刊行物

  • Analytical Sciences

    Analytical Sciences 16 (6), 653-655, 2000

    社団法人 日本分析化学会

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